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​cpem云课堂|金伟强:带绕组条件下的有载分接开关全面诊断测量 -- OMICRON 的解决方案

2022-12-21分类:专题报道 / 专题报道来源:CPEM
【 】


cpem云课堂直播时间:2023年1月17日(周二)15:00


直播分享内容简介:


作为变压器内唯一的可动部件,也是结构最为复杂的部件,有载分接开关已经成为变压器仅次于绕组的第二大问题来源。对其进行可靠的测试与分析,可以有效地发现其状态的异常。在带绕组的条件下,把分接变换过程中绕组回路的变化、振动声波与操作电机电压、电流的变化同步录波并进行分析,是目前为止最全面的诊断分析方法。


专家介绍:


金伟强先生1992年毕业于清华大学电机工程系,是一位经验丰富的电气工程师,从事电力设备测试与诊断相关工作20余年。自2008年以来,金先生一直在OMICRON(中国)公司担任高压业务单元技术专家,在变压器测试诊断方面有着丰富的经验。 


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